<nav id="yxily"></nav><em id="yxily"><acronym id="yxily"><input id="yxily"></input></acronym></em>

    <em id="yxily"><object id="yxily"><input id="yxily"></input></object></em>

      <rp id="yxily"></rp>
      <rp id="yxily"></rp>

      <rp id="yxily"><ruby id="yxily"></ruby></rp>
      <th id="yxily"></th>

      JATG定義及可測試功能

      日期:2021-09-29 19:51
      瀏覽次數:2434
      摘要:
      JATG定義及可測試功能
      JTAG(Joint Test Action Group;聯合測試工作組)是一種國際標準測試協議(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內部測試?,F在多數的上等器件都支持JTAG協議,如DSP、FPGA器件等。標準的JTAG接口是4線:TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。
      JTAG接口形式及定義:
      有三種接品方式: 14針JTAG接口 , 20針JTAG接口 ,10針JTAG接口

      14針JTAG接口

      1 、 13   VCC 接電源
      2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14   GND 接地
      3  nTRST  測試系統復位信號
      5  TDI   測試數據串行輸入
      7  TMS  測試模式選擇
      9  TCK  測試時鐘
      11 TDO   測試數據串行輸出
      12 NC   未連接

      20針JTAG接口

      1 VTref   目標板參考電壓,接電源
      2 VCC   接電源
      3 nTRST   測試系統復位信號
      4、6、8、10、12、14、16、18、20  GND 接地
      5 TDI   測試數據串行輸入
      7 TMS   測試模式選擇
      9 TCK   測試時鐘
      11 RTCK  測試時鐘返回信號
      13 TDO   測試數據串行輸出
      15 nRESET   目標系統復位信號
      17 、 19 NC  未連接

      10針JTAG接口

      仿真器端口 AVR端口 備1. TCK TCK
      2. NC NC
      3. TDO TDO
      4. Vtref VCC
      5. TMS TMS
      6. nSRST RESET
      7. NC / Vsupply NC / VCC JTAG ICE仿真器:VCC;JTAG ICE mkII仿真器:NC
      8. nTRST NC ATMEL尚且保留該端口,如今暫不使用它,未來可能會使用
      9. TDI TDI
      10.GND GND
      JTAG接口定義:
      具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引腳定義:
      TCK——測試時鐘輸入;
      TDI——測試數據輸入,數據通過TDI輸入JTAG口;
      TDO——測試數據輸出,數據通過TDO從JTAG口輸出;
      TMS——測試模式選擇,TMS用來設置JTAG口處于某種特定的測試模式。
      可選引腳TRST——測試復位,輸入引腳,低電平有效。
      含有JTAG口的芯片種類較多,如CPU、DSP、CPLD等。
      JTAG內部有一個狀態機,稱為TAP控制器。TAP控制器的狀態機通過TCK和TMS進行狀態的改變,實現數據和指令的輸入。
      JTAG接口的功能:
      1,邊界掃描測試,
           BSDL驗證
          測試程序調試
          硬件調試
          可測試性優化
          故障可測率提升
      2,基礎結構測試
          連接測試
          i / o連接測試
         邊界掃描/飛針測試
         內存訪問
         集群邏輯測試
         i / o測試組件
         模擬I / o測試
         開短路測試 
         燒錄自檢 
        FPGA-assisted RAM訪問測試
        FPGA-assisted比特誤碼率測試(BERT)
      3,功能模擬測試
        內部芯片測試
        集群測試
        基板輸出輸出測試
       Core-assisted RAM訪問測試
      Core-assisted系統總線測試
      core-assisted i / o測試
      4,IC編程/燒錄
        CPLD/ FPGA編程
        邊界掃描flash編程
        微控制編程
      芯片核心flash編程
      FPGA flash編程

       

       
      h

      粵公網安備 44030602001522號

      ,亚洲日本一区二区三区在线,国产精品女A片爽爽免费视频,精品国产免费人成电影在线观看