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      ict上IC的測試

      日期:2021-08-07 15:43
      瀏覽次數:3678
      摘要:

      ICT上IC的測試:
      1
      開短路測試法

        測試IC各腳的開短路來測試我出不佳

      2,保護二極體測試法

        每個IC都對地和電源有一個反向二極體,通過測試此反向二極體來測試IC的缺件,空焊,反插等不佳現像

      3,HP TESTJET量測法(ivetp)

      HP TestJetTechnology 是量測感測應器與IC 腳框之間的電容量來偵測IC 接腳的空焊。

      1) 由于采用ReedRelay ScannerBoard,Guarding 能力強,因此測試效果好。

       

      2) 由于干擾處理能力強,因此對SMD

          Type Connector的量測相當可靠

      3) 其對IC的可測率達到95%以上

      4 ISSCAN功能測試

       此技術是我公司磚利技術,測試并聊IC的開短.

      5功能測試還支持

       1)穩壓管的穩壓值測試

       2)LED的測試

       3)電機馬達的測試
      ict上IC的測試

      粵公網安備 44030602001522號

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